Characterisation of the interface regions in stepwise bias-graded layers of DLC films by a high-resolution depth profiling method
Ziebert, C.
; Bauer, C.; Stüber, M.; Ulrich, S.; Holleck, H.
; Bauer, C.; Stüber, M.; Ulrich, S.; Holleck, H.| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Materialforschung - Angewandte Werkstoffphysik (IMF1) (IMF1) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 2005 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 240062579 |
| HGF-Programm | 42.02.02 (POF I, LK 01) Nanoskalige Schichtsysteme u.Oberflächen |
| Erscheinungsvermerk | Spring Meeting of the European Materials Research Society, Strasbourg, F, May 24-28, 2004 |