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Characterisation of the interface regions in stepwise bias-graded layers of DLC films by a high-resolution depth profiling method

Ziebert, C.; Bauer, C.; Stüber, M.; Ulrich, S.; Holleck, H.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung - Angewandte Werkstoffphysik (IMF1) (IMF1)
Publikationstyp Vortrag
Publikationsjahr 2005
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 240062579
HGF-Programm 42.02.02 (POF I, LK 01) Nanoskalige Schichtsysteme u.Oberflächen
Erscheinungsvermerk Spring Meeting of the European Materials Research Society, Strasbourg, F, May 24-28, 2004
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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