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Measurement of dielectric and conductive properties of avionic materials at 2.45 GHz using two-step approach

Akhtar, M.J.; Feher, L.; Thumm, M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Hochleistungsimpuls- und Mikrowellentechnik (IHM)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2005
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 240062740
HGF-Programm 11.12.02; LK 01
Erscheinungsvermerk 39th Annual Microwave Symp., Seattle, Wash., July 13-15, 2005 Proc.S.58-61 Blacksburg, Va. : Internat.Microwave Power Institute, 2005
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