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Determination of the sticking probability of the SAES St707 NEG strip

Day, C.; Luo, X.; Conte, A.; Bonucci, A.; Manini, P.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Physik (ITEP)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2006
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 240064078
HGF-Programm 51.54.01 (POF I, LK 02)
Erscheinungsvermerk 25th Internat.Symp.on Rarefied Gas Dynamics, St.Petersburg, Russia, July 15-21, 2006
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