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Measurement of dielectric constant and loss tangent of epoxy resins using a waveguide approach

Akhtar, M.J.; Feher, L.; Thumm, M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Hochleistungsimpuls- und Mikrowellentechnik (IHM)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2006
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 240064443
HGF-Programm 11.12.02 (POF I, LK 01)
Erscheinungsvermerk IEEE Internat.Symp.on Antennas and Propagation (AP-S), USNC/URSI National Radio Science Meeting, American Electromagnetics Meeting (AMEREM), Albuqueque, N.M., July 9-14, 2006 Proc.on CD-ROM New York, N.Y. : IEEE, 2006
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