Adsorption behaviour of creatine phosphokinase onto silicon wafers: comparison between ellipsometric and atomic force microscopy data
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Nanotechnologie (INT) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 2006 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 240064810 |
| HGF-Programm | 43.03.03 (POF I, LK 01) Grenzflächenabhängige Eigenschaften |
| Erscheinungsvermerk | Latin American Symp.on Scanning Probe Microscopy (III LASPM), Ouro Preto, BR, April 18-20, 2005 |