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Adsorption behaviour of creatine phosphokinase onto silicon wafers: comparison between ellipsometric and atomic force microscopy data

Pancera, S.M.; Gliemann, H.; Petri, D.F.S.; Schimmel, T.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2006
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 240064810
HGF-Programm 43.03.03 (POF I, LK 01)
Erscheinungsvermerk Latin American Symp.on Scanning Probe Microscopy (III LASPM), Ouro Preto, BR, April 18-20, 2005
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