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Characterization of PMMA/PVB blend films by means of AFM

Almeida, A.T.; Gliemann, H.; Schimmel, T.; Petri, D.F.S.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2006
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 240064812
HGF-Programm 43.03.03 (POF I, LK 01)
Erscheinungsvermerk Latin American Symp.on Scanning Probe Microscopy (III LASPM), Ouro Preto, BR, April 18-20, 2005
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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