Characterization of PMMA/PVB blend films by means of AFM

Almeida, A. T.; Gliemann, H.; Schimmel, T.; Petri, D. F. S.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp	Vortrag
Publikationsjahr	2006
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 240064812
HGF-Programm	43.03.03 (POF I, LK 01) Grenzflächenabhängige Eigenschaften
Erscheinungsvermerk	Latin American Symp.on Scanning Probe Microscopy (III LASPM), Ouro Preto, BR, April 18-20, 2005