An evaluation of the accuracy and precision of X-ray microanalysis techniques using BCR-126A glass reference material

Gomez-Morilla, I.; Simon, A.; Simon, R.; Williams, T.; Kiss, A. Z.; Grime, G. W.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Synchrotronstrahlung (ISS)
Publikationstyp	Vortrag
Publikationsjahr	2006
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 240065951
HGF-Programm	55.51.21 (POF I, LK 02) SpecialFeatures im ANKA-Labor Röntgent.
Erscheinungsvermerk	17th Internat.Conf.on Ion Beam Analysis (IBA-17), Sevilla, E, June 26 - July 1, 2005