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An evaluation of the accuracy and precision of X-ray microanalysis techniques using BCR-126A glass reference material

Gomez-Morilla, I.; Simon, A.; Simon, R.; Williams, T.; Kiss, A.Z.; Grime, G.W.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Synchrotronstrahlung (ISS)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2006
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 240065951
HGF-Programm 55.51.21; LK 02
Erscheinungsvermerk 17th Internat.Conf.on Ion Beam Analysis (IBA-17), Sevilla, E, June 26 - July 1, 2005
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