Thickness dependence of transformation characteristics of Ni-Mn-Ga thin films deposited on alumina: experiment and modeling

Chernenko, V. A.; Kohl, M.; Ohtsuka, M.; Takagi, T.; L'vov, V. A.; Kniazkyi, V. M.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp	Vortrag
Publikationsjahr	2006
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 240066774
HGF-Programm	43.01.06 (POF I, LK 01) Applikations-u.Transferlaboratorien
Erscheinungsvermerk	Internat.Conf.on Martensitic Transformations, Shanghai, China, June 13-17, 2005