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Crystallite misorientation analysis in semiconductor wafers and ELO samples by rocking curve imaging

Mikulik, P.; Lübbert, D.; Pernot, P.; Helfen, L.; Baumbach, T.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Synchrotronstrahlung (ISS)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2006
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 240066937
HGF-Programm 43.01.05; LK 01
Erscheinungsvermerk Spring Meeting of the European Materials Research Society, Strasbourg, May 31 - June 3, 2005
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