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Measurements of dielectric properties

Akhtar, M.J.; Nelson, S.O.; Tran, N.V.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Hochleistungsimpuls- und Mikrowellentechnik (IHM)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2007
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 240068990
HGF-Programm 11.12.02 (POF I, LK 01)
Erscheinungsvermerk Short Course during 41st Internat.Microwave Symp., Vancouver, CDN, August 1-3, 2007 Mechanicsville, Va. : The Internat.Microwave Power Institute, 2007
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