KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Measurements of dielectric properties

Akhtar, M. J.; Nelson, S. O.; Tran, N. V.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Hochleistungsimpuls- und Mikrowellentechnik (IHM)
Publikationstyp Vortrag
Publikationsjahr 2007
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 240068990
HGF-Programm 11.12.02 (POF I, LK 01) Innov.Reaktions-u.Verfahrenstechnik
Erscheinungsvermerk Short Course during 41st Internat.Microwave Symp., Vancouver, CDN, August 1-3, 2007 Mechanicsville, Va. : The Internat.Microwave Power Institute, 2007
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page