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Tomography with grating interferometers at low-brilliance sources

Weitkamp, R.; David, C.; Kottler, C.; Bunk, O.; Pfeiffer, F.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Synchrotronstrahlung (ISS)
Publikationstyp Vortrag
Publikationsjahr 2007
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 240070305
HGF-Programm 43.01.05 (POF I, LK 01) Charakterisierung u.Zuverlässigkeit
Erscheinungsvermerk Bonse, U. [Hrsg.] Developments in X-Ray Tomography V : Proc.of Optics and Photonics 2006, San Diego, Calif., August 13-17, 2006 Bellingham, Wash. : SPIE, 2006 (SPIE Proceedings Series ; 6318)
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