KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Microsystem and microelectronic devices investigated by synchrotron-Radiation imaging techniques

Helfen, L.; Myagotin, A.; Baumbach, T.; DiMichiel, M.; Kröning, M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Synchrotronstrahlung (ISS)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2007
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 240070320
HGF-Programm 43.01.05; LK 01
Erscheinungsvermerk 9th European Conf.on Non-Destructive Testing (ECNDT), Berlin, September 25-29, 2006 Berlin : DGZfP, 2006 CD-ROM We.1.5.3 (Deutsche Gesellschaft für Zerstörungsfreie Prüfung e.V. ; Berichtsband 103-CD)
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page