Hard X-ray imaging and microscopy with lithographic CRL developed at ANKA synchrotron radiation facility

Simon, R.; Nazmov, V.; Reznikova, E.; Mohr, J.; Saile, V.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT) Institut für Synchrotronstrahlung (ISS)
Publikationstyp	Vortrag
Publikationsjahr	2007
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 240070323
HGF-Programm	43.01.05 (POF I, LK 01) Charakterisierung u.Zuverlässigkeit
Erscheinungsvermerk	Proc.of the 8th Internat.Conf.on X-Ray Microscopy, Himeji, J, July 16-30, 2005 Tokyo : Institute of Pure and Applied Physics, 2006 (IPAP Conference Series ; 7)