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Depth resolved X-ray fluorescence analysis of copper charged muscovite mica

Simon, R.; Kerdpin, U.; Friedrich, F.; Faubel, W.; Weidler, P.; Nüesch, R.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Chemie - Bereich Wasser- und Geotechnologie (ITC-WGT) (ITC-WGT)
Institut für Synchrotronstrahlung (ISS)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2007
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 240070325
HGF-Programm 43.01.05; LK 01
Erscheinungsvermerk Proc.of the 55th Annual Conf.on Applications of X-Ray Analysis, Denver, Colo., August 7-11, 2006 Newtown Square, Pa. : Internat.Center for Diffraction Data, 2007 CD-ROM (Advances in X-Ray Analysis ; 50)
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