Depth resolved X-ray fluorescence analysis of copper charged muscovite mica

Simon, R.; Kerdpin, U.; Friedrich, F.; Faubel, W.; Weidler, P.; Nüesch, R.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Synchrotronstrahlung (ISS) Institut für Technische Chemie - Bereich Wasser- und Geotechnologie (ITC-WGT) (ITC-WGT)
Publikationstyp	Vortrag
Publikationsjahr	2007
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 240070325
HGF-Programm	43.01.05 (POF I, LK 01) Charakterisierung u.Zuverlässigkeit
Erscheinungsvermerk	Proc.of the 55th Annual Conf.on Applications of X-Ray Analysis, Denver, Colo., August 7-11, 2006 Newtown Square, Pa. : Internat.Center for Diffraction Data, 2007 CD-ROM (Advances in X-Ray Analysis ; 50)