Characterization of the mirror region with atomic force microscopy

Wiederhorn, S. M.; Cepero, J.; Wallace, J.; Guin, J. P.; Fett, T.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Materialforschung - Werkstoff- und Biomechanik (IMF2) (IMF2)
Publikationstyp	Vortrag
Publikationsjahr	2007
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 240070660
HGF-Programm	43.01.05 (POF I, LK 01) Charakterisierung u.Zuverlässigkeit
Erscheinungsvermerk	Varner, J.R. [Hrsg.] Fractography of Glasses and Ceramics V : Proc.of the 5th Conf., Rochester, N.Y., July 9-13, 2006 Hoboken, N.J. : Wiley, 2007 (Ceramic Transactions ; 199)