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Power hardware-in-the-loop testing of a YBCO coated conductor fault current limiting module

Schacherer, C.; Steurer, M.; Noe, M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Physik (ITEP)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2008
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 240072224
HGF-Programm 33.01.02; LK 01
Erscheinungsvermerk Applied Superconductivity Conf.(ASC 2008), Chicago, Ill., August 17-22, 2008
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