Power hardware-in-the-loop testing of a YBCO coated conductor fault current limiting module
Schacherer, C.; Steurer, M.; Noe, M.
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Physik (ITEP) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 2008 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 240072224 |
| HGF-Programm | 33.01.02 (POF I, LK 01) Netzbetriebsmittel |
| Erscheinungsvermerk | Applied Superconductivity Conf.(ASC 2008), Chicago, Ill., August 17-22, 2008 |