Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Informatik (IAI) |
Publikationstyp | Vortrag |
Publikationsjahr | 2009 |
Sprache | Englisch |
Identifikator | KITopen-ID: 240076150 |
HGF-Programm | 34.02.02 (POF II, LK 01) Simulation und Messtechnik |
Erscheinungsvermerk | Sensor and Test 2009 : 14th Internat.Conf.on Sensors, Technologies, Electronics and Applications, Nürnberg, May 26-28, 2009 Proc.Vol II Wunstorf : AMA Service GmbH, 2009 |