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Spatially resolved XRF, XAFS, XRD, STXM and IR investigation of a natural U-rich clay

Denecke, M.A.; Michel, P.; Schäfer, T.; Huber, F.; Rickers, K.; Rothe, J.; Dardenne, K.; Brendebach, B.; Vitova, T.; Elie, M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nukleare Entsorgung (INE)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2009
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 240077355
HGF-Programm 32.27.04; LK 01
Erscheinungsvermerk 14th Internat.Conf.on X-Ray Absorption Fine Structure (XAFS 14), Camerino, I, July 26-31, 2009 Journal of Physics: Conference Series, 190(2009) DOI:10.1088/1742-6596/190/1/012187
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