Spatially resolved XRF, XAFS, XRD, STXM and IR investigation of a natural U-rich clay

Denecke, M. A.; Michel, P.; Schäfer, T.; Huber, F.; Rickers, K.; Rothe, J.

; Brendebach, B.; Vitova, T.

; Elie, M.

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seit 13.03.2019

Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Nukleare Entsorgung (INE)
Publikationstyp	Vortrag
Publikationsjahr	2009
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 240077355
HGF-Programm	32.27.04 (POF II, LK 01) Entwickl.u.Anpass.v.Speziationsmeth.
Erscheinungsvermerk	14th Internat.Conf.on X-Ray Absorption Fine Structure (XAFS 14), Camerino, I, July 26-31, 2009 Journal of Physics: Conference Series, 190(2009) DOI:10.1088/1742-6596/190/1/012187