Dislocation generation related to microcrakcs in Si-wafers: High temperature in-situ study with white beam X-ray topography
Danilewsky, A. N.; Wittge, J.; Hess, A.; Cröll, A.; Allen, D.; McNally, P. J.; Vagovic, P.; Cecilia, A.; Li, Z.
; Baumbach, T.; Gorostegui-Colinas, E.; Elizalde, M.
; Baumbach, T.; Gorostegui-Colinas, E.; Elizalde, M.| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Synchrotronstrahlung (ISS) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 2009 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 240078195 |
| HGF-Programm | 55.51.20 (POF II, LK 02) Infrastr.u.Betrieb ANKA-Beschleunigeranl |
| Erscheinungsvermerk | European Materials Research Society Spring Meeting, Strasbourg, F, May 8-12, 2009 |