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Bulk and thin film model samples for the analysis of the strain sensitivity of niobium-tin

Mentink, M.G.T.; Anders, A.; Dhalle, M.M.J.; Dietderich, D.R.; Godeke, A.; Goldacker, W.; Hellman, F.; ten Kate, H.H.J.; Slack, J.L.; Sumption, M.D.; Susner, M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Physik (ITEP)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2010
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 240080165
HGF-Programm 34.03.01; LK 01
Erscheinungsvermerk Applied Superconductivity Conf., Washington, D.C., August 1-6, 2010
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