Bulk and thin film model samples for the analysis of the strain sensitivity of niobium-tin

Mentink, M. G. T.; Anders, A.; Dhalle, M. M. J.; Dietderich, D. R.; Godeke, A.; Goldacker, W.; Hellman, F.; ten Kate, H. H. J.; Slack, J. L.; Sumption, M. D.; Susner, M.

Bulk and thin film model samples for the analysis of the strain sensitivity of niobium-tin

Mentink, M. G. T.; Anders, A.; Dhalle, M. M. J.; Dietderich, D. R.; Godeke, A.; Goldacker, W.; Hellman, F.; ten Kate, H. H. J.; Slack, J. L.; Sumption, M. D.; Susner, M.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Technische Physik (ITEP)
Publikationstyp	Vortrag
Publikationsjahr	2010
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 240080165
HGF-Programm	34.03.01 (POF II, LK 01) Hochstromsupraleiter
Erscheinungsvermerk	Applied Superconductivity Conf., Washington, D.C., August 1-6, 2010

Repository KITopen

Bulk and thin film model samples for the analysis of the strain sensitivity of niobium-tin