Micro- and nano-tomography at the GKSS imaging beamline at PETRA III

Haibel, A.; Ogurreck, M.; Beckmann, F.; Dose, T.; Wilde, F.; Herzen, J.; Müller, M.; Schreyer, A.; Nazmov, V.; Simon, M.; Last, A.; Mohr, J.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp	Vortrag
Publikationsjahr	2010
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 240080480
HGF-Programm	43.14.02 (POF II, LK 01) X-Ray-Optics
Erscheinungsvermerk	Stock, S.R. [Hrsg.] Developments in X-ray Tomography VII : Proc.of Optics and Photonics 2010, San Diego, Calif., August 1-5, 2010 Bellingham, Wash. : SPIE, 2010 B/1-8 (Proceedings of SPIE ; 7804) DOI:10.1117/12.860852