Measurement of DPN-ink viscosity using an AFM cantilever
Biswas, S.; Hirtz, M.
; Lenhert, S.; Fuchs, H.
; Lenhert, S.; Fuchs, H.| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Nanotechnologie (INT) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 2010 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 240080871 |
| HGF-Programm | 43.12.01 (POF II, LK 01) Tailored properties of nanomaterials |
| Erscheinungsvermerk | Nanotechnology 2010 : Electronics, Devices, Fabrication, MEMS, Fluidics and Computational, Anaheim, Calif., June 21-24, 2010 Proc.on CD-ROM Vol.2 Danville, Calif. : NSTI, 2010 |