Fabrication and characterization of analyzer gratings with high aspect rations for phase contrast imaging using a Talbot interferometer

Kenntner, J.; Altapova, V.; Grund, T.; Pantenburg, F. J.; Meiser, J.; Baumbach, T.; Mohr, J.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT) Institut für Synchrotronstrahlung (ISS)
Publikationstyp	Vortrag
Publikationsjahr	2012
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 240087958
HGF-Programm	43.14.02 (POF II, LK 01) X-Ray-Optics
Erscheinungsvermerk	21st Internat.Congress on X-Ray Optics and Microanalysis (ICXOM21), Campinas, BR, September 5-8, 2011