Fabrication and characterization of analyzer gratings with high aspect rations for phase contrast imaging using a Talbot interferometer
Kenntner, J.; Altapova, V.
; Grund, T.; Pantenburg, F. J.; Meiser, J.; Baumbach, T.; Mohr, J.
; Grund, T.; Pantenburg, F. J.; Meiser, J.; Baumbach, T.; Mohr, J.| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT) Institut für Synchrotronstrahlung (ISS) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 2012 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 240087958 |
| HGF-Programm | 43.14.02 (POF II, LK 01) X-Ray-Optics |
| Erscheinungsvermerk | 21st Internat.Congress on X-Ray Optics and Microanalysis (ICXOM21), Campinas, BR, September 5-8, 2011 |