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Fabrication and characterization of analyzer gratings with high aspect rations for phase contrast imaging using a Talbot interferometer

Kenntner, J.; Altapova, V.; Grund, T.; Pantenburg, F.J.; Meiser, J.; Baumbach, T.; Mohr, J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Synchrotronstrahlung (ISS)
Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 240087958
HGF-Programm 43.14.02; LK 01
Erscheinungsvermerk 21st Internat.Congress on X-Ray Optics and Microanalysis (ICXOM21), Campinas, BR, September 5-8, 2011
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