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Process control and glass product quality assessment applied in the VEK plant

Grünewald, W.; Plaschke, M.; Roth, G.; Tobie, W.; Weiss, K.H.; Weisenburger, S.; Stollenwerk, A.; Gauthier, R.; Eissler, A.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nukleare Entsorgung (INE)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 240088172
HGF-Programm 32.25.01; LK 01
Erscheinungsvermerk GLOBAL 2011, Makuhari Messe, Chiba, J, December 11-16, 2011
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