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Design for testability for micro-mechatronic systems

Lanza, G.; Blank, T.; Haefner, B.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 240091875
HGF-Programm 43.14.03; LK 01
Erscheinungsvermerk Smart Production Engineering : 23rd CIRP Design Conference, Bochum, March 11-13, 2013
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