Design for testability for micro-mechatronic systems
Lanza, G.; Blank, T.
; Haefner, B.
; Haefner, B.| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 2013 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 240091875 |
| HGF-Programm | 43.14.03 (POF II, LK 01) System integration |
| Erscheinungsvermerk | Smart Production Engineering : 23rd CIRP Design Conference, Bochum, March 11-13, 2013 |