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Microwave cavity perturbation technique for high-temperature dielectric measurement

Soldatov, S.; Kayser, T.; Link, G.; Seitz, T.; Layer, S.; Jelonnek, J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Hochleistungsimpuls- und Mikrowellentechnik (IHM)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 240092320
HGF-Programm 34.04.01; LK 01
Erscheinungsvermerk 2013 International Microwave Symposium (IMS 2013), Seattle, Wash., June 4-6, 2013
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