Temperature dependent dielectric measurements based on the microwave cavity perturbation technique

Soldatov, S.; Kayser, T.; Link, G.; Seitz, T.; Layer, S.; Jelonnek, J.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Hochfrequenztechnik und Elektronik (IHE) Institut für Hochleistungsimpuls- und Mikrowellentechnik (IHM)
Publikationstyp	Vortrag
Publikationsjahr	2013
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 240093072
HGF-Programm	34.04.01 (POF II, LK 01) Mikrowellentechnik
Erscheinungsvermerk	14th International Conference on Microwave and High Frequency Heating, Nottingham, GB, September 16-19, 2013