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Messunsicherheit und Temperaturauflösung in der kryogenen Temperaturmessung

Süßer, M.

Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Physik (ITEP)
Publikationstyp Vortrag
Publikationsjahr 2013
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen-ID: 240093123
HGF-Programm 34.03.03 (POF II, LK 01) Kryokomponenten
Erscheinungsvermerk Deutsche Kälte-Klima-Tagung, Hannover, 20.-22. November 2013

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seit 23.05.2018
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