Evaluation of phase aberration correction for a 3D USCT using a ray trace based simulation
Kretzek, E.; Dapp, R.; Zapf, M.; Birk, M.; Ruiter, N. V.
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 2013 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 240093731 |
| HGF-Programm | 43.13.01 (POF II, LK 01) Structuring |
| Erscheinungsvermerk | 2013 Joint UFFC, EFTF and PFM Symposium, Praha, CZ, July 21-25, 2013 |