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Evaluation of phase aberration correction for a 3D USCT using a ray trace based simulation

Kretzek, E.; Dapp, R.; Zapf, M.; Birk, M.; Ruiter, N.V.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 240093731
HGF-Programm 43.13.01 (POF II, LK 01)
Erscheinungsvermerk 2013 Joint UFFC, EFTF and PFM Symposium, Praha, CZ, July 21-25, 2013
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