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Fast high-precision distance measurements on scattering technical surfaces using frequency combs

Weimann, C.; Meier, D.; Wolf, S.; Schleitzer, Y.; Totzeck, M.; Heinrich, A.; Hoeller, F.; Leuthold, J.; Freude, W.; Koos, C.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Institut für Photonik und Quantenelektronik (IPQ)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 240093979
HGF-Programm 43.14.04 (POF II, LK 01)
Erscheinungsvermerk Conference on Lasers and Electro-Optics (CLEO 2013), San Jose, Calif., June 9-14, 2013
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