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Polarization-sensitive optical coherence tomography for characterization of size and shape of nano-particles

Schneider, S.; Krämer, A.; Eppler, F.; Alemye, H.; Huebner, C.; Mikonsaari, I.; Leuthold, J.; Freude, W.; Koos, C.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Institut für Photonik und Quantenelektronik (IPQ)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 240093983
HGF-Programm 43.14.04; LK 01
Erscheinungsvermerk Conference on Lasers and Electro-Optics (CLEO 2013), San Jose, Calif., June 9-14, 2013
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