Polarization-sensitive optical coherence tomography for characterization of size and shape of nano-particles

Schneider, S.; Krämer, A.; Eppler, F.; Alemye, H.; Huebner, C.; Mikonsaari, I.; Leuthold, J.; Freude, W.; Koos, C.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT) Institut für Photonik und Quantenelektronik (IPQ)
Publikationstyp	Vortrag
Publikationsjahr	2013
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 240093983
HGF-Programm	43.14.04 (POF II, LK 01) Teratronics
Erscheinungsvermerk	Conference on Lasers and Electro-Optics (CLEO 2013), San Jose, Calif., June 9-14, 2013