KIT | KIT-Bibliothek | Impressum

EVM as new quality metric for optical modulaton analysis

Nebendahl, B.; Schmogrow, R.; Josten, A.; Hillerkuss, D.; Koenig, S.; Winter, M.; Freude, W.; Koos, C.; Leuthold, J.; Meyer, J.; Dreschmann, M.; Huebner, M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Institut für Photonik und Quantenelektronik (IPQ)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 240093985
HGF-Programm 43.14.04; LK 01
Erscheinungsvermerk 2013 Saudi International Electronics, Communications and Photonics Conference (SIECPC), Riyadh, KSA, April 27-30, 2013
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page