EVM as new quality metric for optical modulaton analysis

Nebendahl, B.; Schmogrow, R.; Josten, A.; Hillerkuss, D.; Koenig, S.; Winter, M.; Freude, W.; Koos, C.; Leuthold, J.; Meyer, J.; Dreschmann, M.; Huebner, M.

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EVM as new quality metric for optical modulaton analysis

Nebendahl, B.; Schmogrow, R.; Josten, A.; Hillerkuss, D.; Koenig, S.; Winter, M.; Freude, W.; Koos, C.; Leuthold, J.; Meyer, J.; Dreschmann, M.; Huebner, M.

Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT) Institut für Photonik und Quantenelektronik (IPQ)
Publikationstyp	Vortrag
Jahr	2013
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen ID: 240093985
HGF-Programm	43.14.04; LK 01
Erscheinungsvermerk	2013 Saudi International Electronics, Communications and Photonics Conference (SIECPC), Riyadh, KSA, April 27-30, 2013

Repository KITopen

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