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Measurement of length and position with frequency combs

Weimann, C.; Hoeller, F.; Schleitzer, Y.; Diez, C.A.; Spruck, B.; Freude, W.; Boeck, G.; Koos, C.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Institut für Photonik und Quantenelektronik (IPQ)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2014
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 240101419
HGF-Programm 43.23.03; LK 01
Erscheinungsvermerk 23rd Congress of the International Commission for Optics (ICO 23), Santiago de Compostela, E, August 26-29, 2014
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