Measurement of length and position with frequency combs

Weimann, C.; Hoeller, F.; Schleitzer, Y.; Diez, C. A.; Spruck, B.; Freude, W.; Boeck, G.; Koos, C.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT) Institut für Photonik und Quantenelektronik (IPQ)
Publikationstyp	Vortrag
Publikationsjahr	2014
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 240101419
HGF-Programm	43.23.03 (POF II, LK 01)
Erscheinungsvermerk	23rd Congress of the International Commission for Optics (ICO 23), Santiago de Compostela, E, August 26-29, 2014