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Evaluation of directional reflectivity characteristics as new modality for 3D ultrasound computer tomography

Kretzek, E.; Hucker, P.; Zapf, M.; Ruiter, N.V.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2015
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 240103151
HGF-Programm 54.02.02; LK 01
Erscheinungsvermerk IEEE International Ultrasonics Symposium (IUS 2015), Taipei, Taiwan, October 21- 24, 2015
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