Principles, applications, and limits of X-ray residual stress analyses on thin coatings
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Maschinenbau – Institut für Werkstoffkunde I (IWK I) |
| Publikationstyp | Buchaufsatz |
| Publikationsjahr | 1993 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 241993 |
| Erscheinungsvermerk | In: 9th International Symposium Measurement of Residual Stresses. Ed.: Cercle d'Etudes des Metaux, Ecole Nationale Superieure des Mines de Saint-Etienne. 1993. S. 21-24. |