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Principles, applications, and limits of X-ray residual stress analyses on thin coatings

Eigenmann, Bernd; Lebrun, Jean-Lou



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Werkstoffkunde I (IWK I)
Publikationstyp Buchaufsatz
Publikationsjahr 1993
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 241993
Erscheinungsvermerk In: 9th International Symposium Measurement of Residual Stresses. Ed.: Cercle d'Etudes des Metaux, Ecole Nationale Superieure des Mines de Saint-Etienne. 1993. S. 21-24.
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