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Optical analysis of Al-layer oxidation during Nb/Al2O3-Al/Nb Josephson junction fabrication

Dolata, Ralf; Neuhaus, Manfred; Jutzi, Wilhelm



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Elektrotechnische Grundlagen der Informatik (IEGI)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 1994
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 242594
Erscheinungsvermerk Cryogenics 34 (1994) S. 833-835.
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