Optical analysis of Al-layer oxidation during Nb/Al$_2$O$_3$-Al/Nb Josephson junction fabrication
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik – Institut für Elektrotechnische Grundlagen der Informatik (IEGI) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 1994 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0011-2275, 1879-2235 KITopen-ID: 242594 |
| Erschienen in | Cryogenics |
| Verlag | Elsevier |
| Band | 34 |
| Heft | 10 |
| Seiten | 833-835 |
| Nachgewiesen in | Scopus Web of Science Dimensions |