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High-speed, high-sensitivity, gated surface profiling with closed-loop optical coherence topography

Zvyagin, Andrei V.; Eix, Ilos; Sampson, David D.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2002
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0003-6935
KITopen-ID: 24442002
Erschienen in Applied optics
Verlag The Optical Society of America (OSA)
Band 42
Heft 11
Seiten 2179-2184
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