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Modellgestützte Sichtprüfung spanend bearbeiteter Oberflächen

Beyerer, Jürgen



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mess- und Regelungstechnik mit Maschinenlaboratorium (MRT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 1996
Sprache Deutsch
Identifikator ISSN: 0171-8096
KITopen ID: 246096
Erschienen in tm - Technisches Messen
Band 63
Heft 5
Seiten 182 - 190
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