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Inspection of honed surfaces by conoscopic and image processing methods

Beyerer, Jürgen



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mess- und Regelungstechnik mit Maschinenlaboratorium (MRT)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 1996
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 246296
Erschienen in European Symposium on Laser, Optics and Vision for Productivity in Manufacturing II, 10.-14. Juni 1996, Besancon, France
Verlag Besancon
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