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Composition of InGaN: In-distribution and influence of lattice strain

Schowalter, Marco; Pfundstein, Peter; Hahn, Eike; Neubauer, Brigitte; Rosenauer, Andreas; Gerthsen, Dagmar; Allam, A.; Schineller, B.; Schoen, O.; Heuken, Michael



Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Publikationstyp Buchaufsatz
Publikationsjahr 2002
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 24652002
Erscheinungsvermerk In: Microscopy of semiconducting materials 2001. Ed.: A.G. Cullis. Bristol 2001. S. 273. (Conference series. Institute of Physics. 169.)
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