Determination of indium composition fluctuations in InGaN/GaN quantum wells by quantitative high-resolution electron microscopy

Potin, Valerie; Hahn, Eike; Rosenauer, Andreas; Gerthsen, Dagmar; Off, J.; Scholz, F.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM) Universität Karlsruhe (TH) – Zentrale Einrichtungen (Zentrale Einrichtungen)
Publikationstyp	Buchaufsatz
Publikationsjahr	2002
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 24662002
Erscheinungsvermerk	In: Microscopy of semiconducting materials 2001. Ed.: A.G. Cullis. Bristol 2001. S. 25. (Conference series. Institute of Physics. 169.)