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Determination of indium composition fluctuations in InGaN/GaN quantum wells by quantitative high-resolution electron microscopy

Potin, Valerie; Hahn, Eike; Rosenauer, Andreas; Gerthsen, Dagmar; Off, J.; Scholz, F.



Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Publikationstyp Buchaufsatz
Publikationsjahr 2002
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 24662002
Erscheinungsvermerk In: Microscopy of semiconducting materials 2001. Ed.: A.G. Cullis. Bristol 2001. S. 25. (Conference series. Institute of Physics. 169.)
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