Model-based defect recognition by 3-dimensional sparse arrays
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Mess- und Regelungstechnik mit Maschinenlaboratorium (MRT) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 1996 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | ISBN: 0-7803-3615-1 urn:nbn:de:swb:90-AAA2467966 KITopen-ID: 246796 |
| Erschienen in | Proceedings / 1996 IEEE Ultrasonics Symposium, November 3 - 6, 1996, San Antonio, Texas; Vol. 1 |
| Verlag | IEEE Service Center |
| Seiten | 653 - 657 |