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Model-based defect recognition by 3-dimensional sparse arrays

Menz, Bernhard

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Volltext §
DOI: 10.5445/IR/246796
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mess- und Regelungstechnik mit Maschinenlaboratorium (MRT)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 1996
Sprache Deutsch
Identifikator ISBN: 0-7803-3615-1
urn:nbn:de:swb:90-AAA2467966
KITopen-ID: 246796
Erschienen in Proceedings / 1996 IEEE Ultrasonics Symposium, November 3 - 6, 1996, San Antonio, Texas; Vol. 1
Verlag IEEE Service Center
Seiten 653 - 657
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