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Origin and consequences of a high stacking fault density in epitaxial ZnO layers

Gerthsen, Dagmar; Litvinov, Dimitri; Gruber, Th.; Fischer, C.; Waag, Andreas



Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2002
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0003-6951
KITopen-ID: 24802002
Erschienen in Applied physics letters
Verlag American Institute of Physics (AIP)
Band 81
Heft 21
Seiten 3971
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