Comparison of the morphology and In-distribution of capped and uncapped InGaN layers by transmission electron microscopy
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM) Universität Karlsruhe (TH) – Zentrale Einrichtungen (Zentrale Einrichtungen) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2002 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0370-1972 KITopen-ID: 24822002 |
| Erschienen in | Physica status solidi B |
| Verlag | John Wiley and Sons |
| Band | 234 |
| Heft | 3 |
| Seiten | 947 |