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Comparison of the morphology and In-distribution of capped and uncapped InGaN layers by transmission electron microscopy

Potin, Valerie; Rosenauer, Andreas; Gerthsen, Dagmar; Kuhn, B.; Scholz, F.



Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2002
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0370-1972
KITopen-ID: 24822002
Erschienen in Physica status solidi B
Verlag Wiley
Band 234
Heft 3
Seiten 947
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