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X-ray analysis of residual stresses and stress-free lattice parameters in thin gradient coatings

Duemmer, Tobias; Eigenmann, Bernd; Loehe, Detlef



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Werkstoffkunde I (IWK I)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2000
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 24862000
Erscheinungsvermerk Mater. sci. forum 321/324 (2000) S. 81-86.
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