X-ray analysis of residual stresses and stress-free lattice parameters in thin gradient coatings
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Maschinenbau – Institut für Werkstoffkunde I (IWK I) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2000 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 24862000 |
| Erscheinungsvermerk | Mater. sci. forum 321/324 (2000) S. 81-86. |