Composition evaluation of ternary semiconductor nanostructures by lattice fringe analysis
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM) Universität Karlsruhe (TH) – Zentrale Einrichtungen (Zentrale Einrichtungen) |
| Publikationstyp | Buchaufsatz |
| Publikationsjahr | 2002 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 24872002 |
| Erscheinungsvermerk | In: Proceedings of the 15th International Congress on Electron Microscopy, Durban, South Africa 2002. Ed.: J. Engelbrecht. Vol. 3. S. 195. |