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Compositional analysis of semiconductor nanostructures based on electron holography and a chemically sensitive reflection

Rosenauer, Andreas; Gerthsen, Dagmar; Van Dyck, D.; Arzberger, M.; Boehm, G.; Abstreiter, G.



Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Publikationstyp Buchaufsatz
Publikationsjahr 2002
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 24892002
Erscheinungsvermerk In: Proceedings of the 15th International Congress on Electron Microscopy, Durban, South Africa 2002. Ed.: J. Engelbrecht. Vol. 3. S. 291.
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