KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Advanced X-ray analysis of micro and macro residual stresses in cold rolled materials

Kaempfe, Andreas; Sahin, Aysegül; Loehe, Detlef


Zugehörige Institution(en) am KIT Fakultät für Maschinenbau – Institut für Werkstoffkunde I (IWK I)
Publikationstyp Buchaufsatz
Publikationsjahr 2000
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 24922000
Erscheinungsvermerk In: Proceedings of the International Conference on Residual Stresses 6, ICRS-6, Oxford, U.K. 2000. Ed.: IOM Commun., London. S. 735-742.
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page