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Advanced X-ray analysis of micro and macro residual stresses in cold rolled materials

Kaempfe, Andreas; Sahin, Aysegül; Loehe, Detlef



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Werkstoffkunde I (IWK I)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 2000
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 24922000
Erscheinungsvermerk In: Proceedings of the International Conference on Residual Stresses 6, ICRS-6, Oxford, U.K. 2000. Ed.: IOM Commun., London. S. 735-742.
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