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Segregation in MBE and MOCVD: a comparison

Schowalter, Marco; Rosenauer, Andreas; Gerthsen, Dagmar; Sellin, R.; Bimberg, Dieter



Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Publikationstyp Buchaufsatz
Publikationsjahr 2002
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 24922002
Erscheinungsvermerk In: Proceedings of the 15th International Congress on Electron Microscopy, Durban, South Africa 2002. Ed.: J. Engelbrecht. Vol. 3. S. 113.
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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