Residual stress determination in microsystems using X-ray diffraction
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Maschinenbau – Institut für Werkstoffkunde I (IWK I) |
| Publikationstyp | Buchaufsatz |
| Publikationsjahr | 2000 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | KITopen-ID: 24932000 |
| Erscheinungsvermerk | In: Proceedings of the International Conference on Micro Materials, Micromat 2000. S. 696-699. |